不溶性微粒測(cè)試檢測(cè)分析儀可以完成自動(dòng)過(guò)濾、自動(dòng)干燥、自動(dòng)上樣，自動(dòng)測(cè)試、自動(dòng)出具報(bào)告等多項(xiàng)流程；在彌補(bǔ)常規(guī)顯微鏡法不溶性微粒檢測(cè)的缺陷的同時(shí)，能準(zhǔn)確保留樣品中每個(gè)粒子的原始形貌，對(duì)不溶性微粒的來(lái)源或者形成機(jī)制都具有警示作用。
不溶性微粒分析儀是一種用于檢測(cè)液體中不溶性微粒數(shù)量、大小及分布的高精度儀器，廣泛應(yīng)用于制藥、化工、電子半導(dǎo)體等行業(yè)。
常見(jiàn)故障類(lèi)型及原因：
電源與顯示異常：
現(xiàn)象：有電源指示但數(shù)碼管不顯示或突然停機(jī)。
原因：電源線松動(dòng)、內(nèi)部電源模塊損壞、電路板故障或顯示屏損壞。
氣泡干擾（光阻法）：
現(xiàn)象：黏稠樣品（如血紅蛋白注射液）檢測(cè)時(shí)氣泡被誤判為微粒。
原因：注射器抽取樣品時(shí)引入氣泡，或樣品本身黏度過(guò)高。
顆粒計(jì)數(shù)異常：
現(xiàn)象：顯微計(jì)數(shù)法檢測(cè)時(shí)濾膜殘留水印或紅色樣品（如血紅蛋白）干擾。
原因：操作不規(guī)范（濾膜未完全干燥）、內(nèi)源性顆粒過(guò)多或設(shè)備無(wú)顏色過(guò)濾功能。
針對(duì)性解決方案：
硬件故障排查：
檢查電源連接及適配器，更換損壞的保險(xiǎn)管或電源模塊。
清潔或更換傳感器（如光阻法激光傳感器、顯微計(jì)數(shù)法攝像頭），確保電極無(wú)污染。
操作優(yōu)化：
光阻法：避免劇烈搖晃樣品，改用顯微計(jì)數(shù)法檢測(cè)高黏度或帶色樣品。
顯微計(jì)數(shù)法：確保濾膜干燥后再掃描，使用帶顏色過(guò)濾功能的設(shè)備處理血紅蛋白類(lèi)樣品。
軟件與校準(zhǔn)：
重啟或重裝分析軟件，檢查參數(shù)設(shè)置（如粒徑范圍、采樣頻率）。
每6個(gè)月校準(zhǔn)儀器，使用標(biāo)準(zhǔn)微粒驗(yàn)證準(zhǔn)確性。
地址：上海市浦東新區(qū)航川路18號(hào)
郵箱：info@yh-tek.com
傳真：021-58220558
當(dāng)前位置：